Difraccion de rayos X por el metodo de Debije-Scherrer para detectar cambios dimensionales pequeños en la celda unidad de los cristales

Difraccion de rayos X por el metodo de Debije-Scherrer para detectar cambios dimensionales pequeños en la celda unidad de los cristales

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Millán Malo, Beatriz Marcela
Otras Contribuciones: Cordero Borboa, Adolfo E. (Asesor)
Formato: Tesis de licenciatura
Publicado: MX 1991
Materias:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Rayos X
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000153018
http://132.248.9.195/pmig2017/0153018/Index.html

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