Ramírez Miguel, N., & Arango Galván, C. (2010). Caracterización de fallas y fracturas mediante tomografía eléctrica utilizando electrodos de acoplamiento capacitivo.
Cita Chicago Style (17a ed.)Ramírez Miguel, Nely, y Claudia Arango Galván. Caracterización De Fallas Y Fracturas Mediante Tomografía Eléctrica Utilizando Electrodos De Acoplamiento Capacitivo. 2010.
Cita MLA (8a ed.)Ramírez Miguel, Nely, y Claudia Arango Galván. Caracterización De Fallas Y Fracturas Mediante Tomografía Eléctrica Utilizando Electrodos De Acoplamiento Capacitivo. 2010.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.