Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hamui Balas, León
Otras Contribuciones: Santana Rodríguez, Guillermo (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Lenguaje:Español
Publicado: 2011
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000666972
http://132.248.9.195/ptb2011/febrero/0666972/Index.html
_version_ 1777516698364018688
author Hamui Balas, León
author2 Santana Rodríguez, Guillermo
author2_role Asesor
author_facet Santana Rodríguez, Guillermo
Hamui Balas, León
author_sort Hamui Balas, León
collection DSpace
dc:degree.department Instituto de Investigaciones en Materiales
dc:degree.department_facet Instituto de Investigaciones en Materiales
dc:degree.grantor Universidad Nacional Autónoma de México
dc:degree.level Maestría
dc:degree.name Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc:degree.name_facet Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc:rights http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
Acceso en línea sin restricciones
format Tesis de maestría
id 20.500.14330-TES01000666972
institution Universidad Nacional Autónoma de México
language Español
publishDate 2011
record_format dspace
spelling 20.500.14330-TES010006669722021-05-16T22:01:14Z Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización Hamui Balas, León Santana Rodríguez, Guillermo Ciencias Físico-Matemáticas e Ingenierías Propiedades ópticas Materiales nanoestructurados 2011 Tesis de maestría publishedVersion https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000666972 http://132.248.9.195/ptb2011/febrero/0666972/Index.html 001-00347-H1-2011 spa http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 Acceso en línea sin restricciones MX https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?func=direct&current_base=TES01&doc_number=000666972 Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales Universidad Nacional Autónoma de México Instituto de Investigaciones en Materiales Maestría
spellingShingle Ciencias Físico-Matemáticas e Ingenierías
Propiedades ópticas
Materiales nanoestructurados
Hamui Balas, León
Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title_full Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title_fullStr Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title_full_unstemmed Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title_short Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
title_sort estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por pevcd y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
topic Ciencias Físico-Matemáticas e Ingenierías
Propiedades ópticas
Materiales nanoestructurados
url https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000666972
http://132.248.9.195/ptb2011/febrero/0666972/Index.html
work_keys_str_mv AT hamuibalasleon estudiodelaspropiedadesopticasyelectronicasdepeliculasdesiliciopolimorfonanoestructuradoobtenidasporpevcdydesarrollodesistemasyprogramasparasucaracterizacion