Elipsometría aplicada al estudio de nanopartículas metálicas embebidas en una matriz semiconductora

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Montiel González, Zeuz
Otras Contribuciones: Rodil Posada, Sandra Elizabeth (Asesor)
Formato: Tesis de doctorado
Publicado: MX 2012
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649
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