Aguilar Melo, V., & Ruvalcaba Sil, J. L. (2019). Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X.
Cita Chicago Style (17a ed.)Aguilar Melo, Valentina, y José Luis Ruvalcaba Sil. Caracterización De Materiales in Situ Por Difracción Y Fluorescencia De Rayos X. 2019.
Cita MLA (8a ed.)Aguilar Melo, Valentina, y José Luis Ruvalcaba Sil. Caracterización De Materiales in Situ Por Difracción Y Fluorescencia De Rayos X. 2019.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.