Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián
Otras Contribuciones: Rodríguez Gómez, Arturo (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Lenguaje:Español
Publicado: 2023
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000836014
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