Medicion del espesor de recubrimientos metalicos con rayos X de fluorescencia inducidos por fuentes radiactivas

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Pacchiano Ramos-Cárdenas, Agelica
Formato: Tesis de licenciatura
Publicado: México 1970
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000066739
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