Medicion del espesor de recubrimientos metalicos con rayos X de fluorescencia inducidos por fuentes radiactivas
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Tesis de licenciatura |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1970
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000066739 |