Propiedades topologicas, electronicas y opticas de silicio amorfo puro y contaminado

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alvarez Ramirez, Fernando
Otras Contribuciones: Valladares, A. A. (Asesor)
Formato: Tesis de doctorado
Lenguaje:Español
Publicado: 2002
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000303565
http://132.248.9.195/pdtestdf/0303565/Index.html