Alvarez Ramirez, F., & Valladares, A. A. (2002). Propiedades topologicas, electronicas y opticas de silicio amorfo puro y contaminado.
Cita Chicago Style (17a ed.)Alvarez Ramirez, Fernando, y A. A. Valladares. Propiedades Topologicas, Electronicas Y Opticas De Silicio Amorfo Puro Y Contaminado. 2002.
Cita MLA (8a ed.)Alvarez Ramirez, Fernando, y A. A. Valladares. Propiedades Topologicas, Electronicas Y Opticas De Silicio Amorfo Puro Y Contaminado. 2002.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.