Estudio del efecto del niobio en trampas de vanadio y reductores de SOx para el proceso fcc
Autor principal: | |
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Otras Contribuciones: | |
Formato: | Tesis de licenciatura |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
2003
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Materias: | |
Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000320549 http://132.248.9.195/ppt2002/0320549/Index.html |