Estudio del efecto del niobio en trampas de vanadio y reductores de SOx para el proceso fcc

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Huerta Cedillo, Enrique
Otras Contribuciones: Cedeño Caero, Luis (Asesor)
Formato: Tesis de licenciatura
Lenguaje:Español
Publicado: 2003
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000320549
http://132.248.9.195/ppt2002/0320549/Index.html

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