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Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR

Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Díaz Bucio, Xochitl Monica
Otras Contribuciones: Alonso Huitrón, Juan Carlos (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Publicado: MX 2007
Materias:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430
http://132.248.9.195/pd2007/0617430/Index.html
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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430
http://132.248.9.195/pd2007/0617430/Index.html

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