Caracterización térmica y termoelectrónica de obleas de silicio implantado con boro, mediante radiometría de fotoportadores
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otras Contribuciones: | |
| Formato: | Tesis de maestría |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2007
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000626163 http://132.248.9.195/pd2008/0626163/Index.html |