Caracterización térmica y termoelectrónica de obleas de silicio implantado con boro, mediante radiometría de fotoportadores

Detalles Bibliográficos
Autor principal: García Rivera, José
Otras Contribuciones: Rodríguez García, Mario Enrique (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Publicado: MX 2007
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000626163
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García Rivera, José
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