Elipsometría aplicada al estudio de nanopartículas metálicas embebidas en una matriz semiconductora
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| Otras Contribuciones: | |
| Formato: | Tesis de doctorado |
| Publicado: |
México
2012
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649 https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2012/mayo/0679649/Index.html |