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Elipsometría aplicada al estudio de nanopartículas metálicas embebidas en una matriz semiconductora

Elipsometría aplicada al estudio de nanopartículas metálicas embebidas en una matriz semiconductora

Bibliographic Details
Main Author: Montiel González, Zeuz
Other Authors: Rodil Posada, Sandra Elizabeth (Asesor)
Format: Tesis de doctorado
Published: MX 2012
Subjects:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Nanopartículas
Online Access:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649
http://132.248.9.195/ptd2012/mayo/0679649/Index.html
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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649
http://132.248.9.195/ptd2012/mayo/0679649/Index.html

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