Saltar al contenido
VuFind
    • English
    • Español
Avanzado
  • Información de Van Trees en la...
  • Citar
  • Describir
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enlace Permanente
Información de Van Trees en la metrología cuántica

Información de Van Trees en la metrología cuántica

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Martínez Vargas, Esteban
Otras Contribuciones: Pineda Zorrilla, Carlos Francisco (Asesor)
Formato: Tesis de licenciatura
Publicado: MX 2014
Materias:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000707832
http://132.248.9.195/ptd2014/febrero/0707832/Index.html
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Internet

https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000707832
http://132.248.9.195/ptd2014/febrero/0707832/Index.html

Ejemplares similares

  • Parámetros aleatorios e inferencia bayesiana en la metrología cuántica
    por: Martínez Vargas, Esteban
    Publicado: (2016)
  • Discriminant analysis with gaussian graphical tree models
    por: Pérez de la Cruz, Gonzalo
    Publicado: (2015)
  • Árboles aleatorios y propiedades fractales del continuum random tree
    por: Márquez Vázquez, Daniel Antonio
    Publicado: (2013)
  • Metrologia dimensional utilizando vision estereo
    por: Martinez Murillo, Huitzilihuitl Daniel, et al.
    Publicado: (1999)
  • Implementación de las tecnologías de información en el Centro Nacional de Metrología
    por: Salazar Castillón, Rodrigo Alberto
    Publicado: (2010)

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Lista Alfabética
  • Explorar canales
  • Reservas de Curso
  • Nuevos ejemplares

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda