$Desarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales$

Desarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Aguilar Melo, Valentina
Otras Contribuciones:	Ruvalcaba Sil, José Luis (Asesor), Bucio, L. (Asesor), Chávez Carvayar, José Álvaro (Asesor)
Formato:	Tesis de maestría
Publicado:	MX 2014
Materias:	Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías Rayos X
Acceso en línea:	https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000709844 http://132.248.9.195/ptd2014/marzo/0709844/Index.html

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