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Parámetros aleatorios e inferencia bayesiana en la metrología cuántica

Parámetros aleatorios e inferencia bayesiana en la metrología cuántica

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Martínez Vargas, Esteban
Otras Contribuciones: Barberis Blostein, Pablo (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Publicado: MX 2016
Materias:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000746326
http://132.248.9.195/ptd2016/junio/0746326/Index.html
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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000746326
http://132.248.9.195/ptd2016/junio/0746326/Index.html

Ejemplares similares

  • Información de Van Trees en la metrología cuántica
    por: Martínez Vargas, Esteban
    Publicado: (2014)
  • Inferencia bayesiana para datos circulares
    por: González González, Uziel José
    Publicado: (2012)
  • WinBUGS : un software para inferencia bayesiana
    por: Monroy Cruz, Elizabeth
    Publicado: (2006)
  • Procesos normalizados como distribuciones iniciales en inferencia bayesiana
    por: Medina Díaz, Karla Eugenia
    Publicado: (2006)
  • Inferencia Bayesiana a partir de distribuciones finales multimodales
    por: Nieto Barajas, Luis Enrique
    Publicado: (1998)

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