Estudio del índice de refracción no lineal y coeficiente de absorción de tercer orden en películas amorfas de SiO2:DR1 y mesoestructuradas de SiO2/CTAB:DR1 mediante la técnica Z-scan en función de la potencia de excitación

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Salas Gamez, Gerardo
Otras Contribuciones: García Macedo, Jorge Alfonso (Asesor)
Formato: Tesis de licenciatura
Lenguaje:Español
Publicado: 2017
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000754246
http://132.248.9.195/ptd2017/enero/0754246/Index.html