Estudio del índice de refracción no lineal y coeficiente de absorción de tercer orden en películas amorfas de SiO2:DR1 y mesoestructuradas de SiO2/CTAB:DR1 mediante la técnica Z-scan en función de la potencia de excitación
| Autor principal: | |
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| Otras Contribuciones: | |
| Formato: | Tesis de licenciatura |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2017
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000754246 http://132.248.9.195/ptd2017/enero/0754246/Index.html |