Caracterización por XRD, RBS, SEM y lonoluminiscencia de películas delgadas de ZnO y CuOx formadas a partir de la oxidación de Zn y Cu por procesos térmicos
| Autor principal: | |
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| Otras Contribuciones: | |
| Formato: | Tesis de licenciatura |
| Publicado: |
México
2018
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000782795 https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2018/noviembre/0782795/Index.html |