$Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X$

Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X

Bibliographic Details
Main Author:	Aguilar Melo, Valentina
Other Authors:	Ruvalcaba Sil, José Luis (Asesor), Bucio, L. (Asesor), Rivera Muñoz, Eric Mauricio (Asesor)
Format:	Tesis de doctorado
Published:	MX 2019
Subjects:	Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Online Access:	https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000790310 http://132.248.9.195/ptd2019/junio/0790310/Index.html

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