Saltar al contenido
VuFind
    • English
    • Español
Avanzado
  • Efectos de apantallamiento en...
  • Citar
  • Describir
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enlace Permanente
Efectos de apantallamiento en la estabilidad de sistemas microelectromecánicos (MEMS)

Efectos de apantallamiento en la estabilidad de sistemas microelectromecánicos (MEMS)

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Gómez Farfán, María Guadalupe
Otras Contribuciones: Esquivel Sirvent, Raúl Patricio (Asesor)
Formato: Tesis de licenciatura
Publicado: MX 2019
Materias:
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000801285
http://132.248.9.195/ptd2020/marzo/0801285/Index.html
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Internet

https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000801285
http://132.248.9.195/ptd2020/marzo/0801285/Index.html

Ejemplares similares

  • Efectos de apantallamiento y campo local en anisotropias inducidas en la superficie de metales
    por: Tarriba Unger, Jesus Maria
    Publicado: (1987)
  • Estabilidad de MEMS y NEMS para fuerzas generales
    por: Luque Jiménez, Jesus Humberto
    Publicado: (2008)
  • Análisis y diseño de un resonador microelectromecánico de alta Q para aplicaciones en alta frecuencia
    por: Herrera Martínez, Alberto Israel
    Publicado: (2008)
  • Acondicionamiento de señal proveniente de un acelerómetro MEMS
    por: Farfán Suárez, Efrén
    Publicado: (2010)
  • Sistema de sensado óptico para MEMS
    por: Montero Díaz, Juan Antonio
    Publicado: (2010)

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Lista Alfabética
  • Explorar canales
  • Reservas de Curso
  • Nuevos ejemplares

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda