Obtencion de imagenes termicas y termoelectronica de materiales semiconductores por medio de radiometria fototermica Infrarroja y de radiometria de fotoportadores

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Velázquez Hernández, Rubén
Otras Contribuciones: Rodríguez García, Mario Enrique (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Lenguaje:Español
Publicado: 2007
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000625534
http://132.248.9.195/pd2008/0625534/Index.html