Propiedades ópticas y estructura de películas delgadas de nitruro de silicio con nano cúmulos de silicio embebidos depositadas por rpecvd

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Serrano Núñez, Mario Alberto
Otras Contribuciones: Alonso Huitrón, Juan Carlos (Asesor)
Formato: Tesis de maestría
Lenguaje:Español
Publicado: 2015
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000735424
http://132.248.9.195/ptd2015/septiembre/0735424/Index.html